Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald
Format: Livre
Langue:English
Publié: Springer Singapore 2020
Sujets:
Accès en ligne:http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5
https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt