Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald
Format: Książka
Język:English
Wydane: Springer Singapore 2020
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5
https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt