Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главные авторы: Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald
Формат:
Язык:English
Опубликовано: Springer Singapore 2020
Предметы:
Online-ссылка:http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5
https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt