Nghiên cứu tính chất điện của màng Ge pha tạp điện tử từ nguồn rắn GaP và Sb bằng phương pháp Epitaxy chùm phân tử
Đã lưu trong:
Hovedforfatter: | Lương, Thị Kim Phượng |
---|---|
Format: | Bài viết |
Sprog: | Vietnamese |
Udgivet: |
2023
|
Fag: | |
Online adgang: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=284448 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/125512 |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Lignende værker
-
STUDY OF ELECTRICAL PROPERTIES OF ELECTRON DOPED Ge FILM USING GaP AND Sb SOLID SOURCES BY MOLECULAR BEAM EPITAXY METHOD
af: Lương, Thị Kim Phượng
Udgivet: (2023) -
STUDY OF ELECTRICAL PROPERTIES OF ELECTRON DOPED Ge FILM USING GaP AND Sb SOLID SOURCES BY MOLECULAR BEAM EPITAXY METHOD
af: Lương, Thị Kim Phượng
Udgivet: (2024) -
KHẢO SÁT SỰ PHÁT TRIỂN CỦA MÀNG Ge TRÊN ĐẾ GaAs(100) BẰNG PHƯƠNG PHÁP EPITAXY CHÙM PHÂN TỬ
af: Lương, Thị Kim Phượng, et al.
Udgivet: (2025) -
ẢNH HƯỞNG CỦA NGUYÊN TỐ Sb ĐẾN TÍNH CHẤT QUANG CỦA MÀNG Ge/Si ĐỒNG PHA TẠP Sb VÀ P
af: Lương, Thị Kim Phượng
Udgivet: (2023) -
INVESTIGATE AND FABRICATE A LIGHT EMITTING DIODE BASED ON Ge/Si CO-DOPED WITH P AND Sb FOR OPTOELECTRONIC APPLICATIONS
af: Lương, Thị Kim Phượng
Udgivet: (2023)