Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS]
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Hoàng, Văn Dũng, Phạm, Thanh Tuấn Anh, Lê, Nguyễn Bảo Thư, Nguyễn, Hữu Trương, Phan, Bách Thắng, Trần, Cao Vinh |
---|---|
التنسيق: | مقال |
اللغة: | Vietnamese |
منشور في: |
2023
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=321753 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/165098 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
مواد مشابهة
- Electrochemical performance of layered Li[Li0.15Ni0.275-xMgxMn0.575]O2 cathode materials for lithium secondary batteries /
-
ẢNH HƯỞNG CỦA VIỆC THAY THẾ MG CHO SR LÊN TÍNH CHẤT TỪ CỦA La0.7Sr0.3-xMgxMnO3
بواسطة: Nguyễn, Tuấn Phương, وآخرون
منشور في: (2024) - Characterization of the Mn-Li ferrite system Li1-0.5xFe1.5x+1Mn1-xO4 (0.2 <= x <= 1) /
-
Stylistics (0 415 09769 X)
بواسطة: RICHARD BRADFORD
منشور في: (1997) -
Discourse (0 415 11053 X)
بواسطة: SARA MILLS
منشور في: (1997)