Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS]
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριοι συγγραφείς: | Hoàng, Văn Dũng, Phạm, Thanh Tuấn Anh, Lê, Nguyễn Bảo Thư, Nguyễn, Hữu Trương, Phan, Bách Thắng, Trần, Cao Vinh |
---|---|
Μορφή: | Άρθρο |
Γλώσσα: | Vietnamese |
Έκδοση: |
2023
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=321753 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/165098 |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Παρόμοια τεκμήρια
- Electrochemical performance of layered Li[Li0.15Ni0.275-xMgxMn0.575]O2 cathode materials for lithium secondary batteries /
-
ẢNH HƯỞNG CỦA VIỆC THAY THẾ MG CHO SR LÊN TÍNH CHẤT TỪ CỦA La0.7Sr0.3-xMgxMnO3
ανά: Nguyễn, Tuấn Phương, κ.ά.
Έκδοση: (2024) - Characterization of the Mn-Li ferrite system Li1-0.5xFe1.5x+1Mn1-xO4 (0.2 <= x <= 1) /
-
Stylistics (0 415 09769 X)
ανά: RICHARD BRADFORD
Έκδοση: (1997) -
Discourse (0 415 11053 X)
ανά: SARA MILLS
Έκδοση: (1997)