Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS]
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριοι συγγραφείς: | , , , , , |
---|---|
Μορφή: | Άρθρο |
Γλώσσα: | Vietnamese |
Έκδοση: |
2023
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=321753 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/165098 |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!