Đánh giá sự khít sát của inlay toàn sứ lithium disilicate được thực hiện bằng kỹ thuật lấy dấu thường quy và lấy dấu kỹ thuật số
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Nguyễn, Hữu Trung, Đoàn, Minh Trí |
---|---|
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | Vietnamese |
Được phát hành: |
2023
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=335405 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/180179 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Độ cứng Vickers và cấu trúc bề mặt sứ Lithium disilicate trước và sau xử lý Axit hydrofluoric
Bỡi: Trần, Lê Khoa, et al.
Được phát hành: (2023) -
Nghiên cứu invitro về sự khít sát của của kỹ thuật trám bít ống tủy một cây cone
Bỡi: Võ, Huỳnh Trang, et al.
Được phát hành: (2024) -
Mức độ đau ở trẻ sơ sinh khi thực hiện kỹ thuật lấy máu tĩnh mạch ngoại biên
Bỡi: Nguyễn, Vũ Bảo Châu, et al.
Được phát hành: (2024) -
Phẫu thuật nội soi lấy u dốc nền kết quả trong 8 tháng đầu năm 2022
Bỡi: Nguyễn, Đức Anh, et al.
Được phát hành: (2024) -
Tiêu chuẩn và cách thực hiện kỹ thuật lấy sỏi qua da không mở thận ra da
Bỡi: Dương, Cao Trí, et al.
Được phát hành: (2024)