Phân tích và nhận diện hình ảnh các pha vật liệu thành phần trong kết cấu bê tông bằng phương pháp chụp cắt lớp với tia X = Analysis and identification of images of component material phases in concrete structures by X-ray tomography method

Mã QR

Phân tích và nhận diện hình ảnh các pha vật liệu thành phần trong kết cấu bê tông bằng phương pháp chụp cắt lớp với tia X = Analysis and identification of images of component material phases in concrete structures by X-ray tomography method

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Nguyễn, Xuân Lam, Vũ, Bá Thành
Định dạng:	Bài viết
Ngôn ngữ:	Vietnamese
Được phát hành:	2023
Những chủ đề:	Giao thông vận tải
Truy cập trực tuyến:	https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=346721 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/187656
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự

Industrial X-Ray Computed Tomography. 1st ed. 2018
Bỡi: Carmignato, Simone, et al.
Được phát hành: (2020)

Structural shielding design for medical X-ray imaging facilities
Bỡi: National Council on Radiation Protection and Measurements
Được phát hành: (2014)

X-Ray Diffraction Imaging of Biological Cells
Bỡi: Nakasako, Masayoshi
Được phát hành: (2020)

X-ray fluorescence tomography of individual municipal solid waste and biomass fly ash particles /

Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
Bỡi: Oh, G.

X-ray Absorption Spectroscopy for the Chemical and Materials Sciences
Bỡi: Evans
Được phát hành: (2020)

Structure determination by x-ray crystallography :
Bỡi: Ladd, Mark
Được phát hành: (2013)

X-rays for Archaeology
Bỡi: Uda, M., et al.
Được phát hành: (2020)

Advances in X-ray analysis : proceedings...annual Conference on Application of X-ray Analysis.
Được phát hành: (1960)

Quantitative X-ray photoelectron spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry characterization of the components in DNA /
Bỡi: May, Collin J.

Phương pháp phân tích huỳnh quang tia X
Bỡi: Trần, Phong Dũng
Được phát hành: (2003)

Phương pháp phân tích huỳnh quang tia X /
Bỡi: Trần Phong Dũng
Được phát hành: (2003)

Phương pháp phân tích huỳnh quang tia X /
Bỡi: Trần Phong Dũng
Được phát hành: (2003)

Elements of X-ray diffraction
Bỡi: Cullity, B. D.
Được phát hành: (2001)

Elements of X-Ray diffraction
Bỡi: Cullity, B. D.
Được phát hành: (2001)

Frontiers of X-ray astronomy
Được phát hành: (2004)

From X-Rays to Quarks :
Bỡi: Segre, Emilio
Được phát hành: (1980)

X-Ray Contrast Media
Bỡi: Speck, Ulrich
Được phát hành: (2020)

Quantitative x-ray spectrometry
Bỡi: Jenkins, Ron, et al.
Được phát hành: (2014)

Handbook of X-ray data
Bỡi: Zschornack, Günter
Được phát hành: (2013)

Handbook of X-ray spectrometry
Bỡi: VanGriekan, ReneE, et al.
Được phát hành: (2013)

X-Ray Lasers 2016
Bỡi: Kawachi, Tetsuya, et al.
Được phát hành: (2020)

Quantitative X-Ray Diffractometry
Bỡi: Zevin, Lev S, et al.
Được phát hành: (2014)

X-rays in theory and experiment
Bỡi: Compton, Arthur Holly, et al.
Được phát hành: (2013)

An introduction to X-ray crystallography
Bỡi: Woolfson, M M
Được phát hành: (2013)

Advances in X-Ray analysis.
Được phát hành: (1963)

X-Ray Lasers 2018
Bỡi: Kozlová, Michaela, et al.
Được phát hành: (2020)

Micro X-ray fluorescence imaging without scans : Toward an element-selective movie/
Bỡi: Sakurai, Kenji.

Sampling, storage and sample preparation procedures for x ray fluorescence analysis of environmental materials
Bỡi: International Atomic Energy Agency
Được phát hành: (2014)

Structure Determination by X-ray Crystallography. 5th ed.
Bỡi: Ladd, Mark, et al.
Được phát hành: (2020)

Phân tích bạc, ziriconi bằng huỳnh quang tia X /
Bỡi: Đỗ Kim Chung.

PCM-Enhanced Building Components An Application of Phase Change Materials in Building Envelopes and Internal Structures
Bỡi: Kosny, Jan
Được phát hành: (2015)

The fundamentals of X-rays and radium physics
Bỡi: Selman, Joseph
Được phát hành: (1972)

Symposium on X-Ray lithography in Japan
Bỡi: Davis, Keneth
Được phát hành: (1991)

X-ray scattering from semiconductors
Bỡi: Fewster, Paul F
Được phát hành: (2000)

X-ray scattering from semiconductors
Bỡi: Fewster, Paul F.
Được phát hành: (2000)

X-ray scattering from semiconductors /
Bỡi: Fewster, Paul F.
Được phát hành: (2000)

X-ray scattering from semiconductors /
Bỡi: Fewster, Paul F.
Được phát hành: (2000)

Elements of modern X-ray physics /
Bỡi: Als-Nielsen, Jens
Được phát hành: (2001)

Elements of modern X-ray physics /
Bỡi: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Được phát hành: (2001)