Nghiên cứu xây dựng thử nghiệm tầng vật lý cho giao thức hart sử dụng ic analog devices
Zapisane w:
Główni autorzy: | Hoàng, Sỹ Hồng, Hoàng, Ngọc Nhân |
---|---|
Format: | Artykuł |
Język: | Vietnamese |
Wydane: |
2024
|
Hasła przedmiotowe: | |
Dostęp online: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/232020 |
Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobne zapisy
-
Hart's postscript
od: Coleman, Jules
Wydane: (2001) -
Automatic Analog IC Sizing and Optimization Constrained with PVT Corners and Layout Effects
od: Lourenço, Nuno, i wsp.
Wydane: (2020) -
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies. 1st ed.
od: Canelas, António Manuel Lourenço, i wsp.
Wydane: (2020) -
Silicon Analog Components:
Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability
od: El-Kareh, Badih, i wsp.
Wydane: (2016) -
Đơn giản hóa quá trình trao đổi dữ liệu nhờ chuẩn HART - IP
od: Nhật, Minh
Wydane: (2024)