Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
Uloženo v:
| Hlavní autoři: | , |
|---|---|
| Médium: | Článek |
| Jazyk: | Vietnamese |
| Vydáno: |
Hà Nội
2013
|
| On-line přístup: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!