Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
Tallennettuna:
| Päätekijät: | , |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Artikkeli |
| Kieli: | Vietnamese |
| Julkaistu: |
Hà Nội
2013
|
| Linkit: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Lisää ensimmäinen kommentti!