Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
में बचाया:
| मुख्य लेखकों: | , |
|---|---|
| स्वरूप: | लेख |
| भाषा: | Vietnamese |
| प्रकाशित: |
Hà Nội
2013
|
| ऑनलाइन पहुंच: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
टिप्पणी देने वाले पहले व्यक्ति बनें!