Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
Bewaard in:
| Hoofdauteurs: | , |
|---|---|
| Formaat: | Artikel |
| Taal: | Vietnamese |
| Gepubliceerd in: |
Hà Nội
2013
|
| Online toegang: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Wees de eerste die reageert!