Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ

Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.

Đã lưu trong:
书目详细资料
Những tác giả chính: Trần, Đình Tường, Nguyễn, Anh Tuấn
格式: Bài viết
语言:Vietnamese
出版: Hà Nội 2013
在线阅读:http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012
标签: 添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt