Applied Pattern Recognition
保存先:
主要な著者: | Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark |
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フォーマット: | 図書 |
言語: | English |
出版事項: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
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主題: | |
オンライン・アクセス: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84215 |
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Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
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