Noncontact Atomic Force Microscopy
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland |
---|---|
বিন্যাস: | গ্রন্থ |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84485 |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Noncontact Atomic Force Microscopy:
Volume 3
অনুযায়ী: Morita, S, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2016) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
অনুযায়ী: Brodusch, Nicolas, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
অনুযায়ী: Starman, LaVern, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Advanced Noncontact Cutting and Joining Technologies
অনুযায়ী: Mahamood, Rasheedat Modupe, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
অনুযায়ী: Lamberti, Luciano, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)