Noncontact Atomic Force Microscopy
Tallennettuna:
Päätekijät: | Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland |
---|---|
Aineistotyyppi: | Kirja |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Aiheet: | |
Linkit: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84485 |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Samankaltaisia teoksia
-
Noncontact Atomic Force Microscopy:
Volume 3
Tekijä: Morita, S, et al.
Julkaistu: (2016) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Tekijä: Brodusch, Nicolas, et al.
Julkaistu: (2020) -
Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
Tekijä: Starman, LaVern, et al.
Julkaistu: (2020) -
Advanced Noncontact Cutting and Joining Technologies
Tekijä: Mahamood, Rasheedat Modupe, et al.
Julkaistu: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
Tekijä: Lamberti, Luciano, et al.
Julkaistu: (2020)