Noncontact Atomic Force Microscopy
Gardado en:
Những tác giả chính: | Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland |
---|---|
Formato: | Libro |
Idioma: | English |
Publicado: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Những chủ đề: | |
Acceso en liña: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84485 |
Các nhãn: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Títulos similares
-
Noncontact Atomic Force Microscopy:
Volume 3
por: Morita, S, et al.
Publicado: (2016) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
por: Brodusch, Nicolas, et al.
Publicado: (2020) -
Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
por: Starman, LaVern, et al.
Publicado: (2020) -
Advanced Noncontact Cutting and Joining Technologies
por: Mahamood, Rasheedat Modupe, et al.
Publicado: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
por: Lamberti, Luciano, et al.
Publicado: (2020)