Noncontact Atomic Force Microscopy
שמור ב:
Những tác giả chính: | Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84485 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
פריטים דומים
-
Noncontact Atomic Force Microscopy:
Volume 3
מאת: Morita, S, et al.
יצא לאור: (2016) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
מאת: Brodusch, Nicolas, et al.
יצא לאור: (2020) -
Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
מאת: Starman, LaVern, et al.
יצא לאור: (2020) -
Advanced Noncontact Cutting and Joining Technologies
מאת: Mahamood, Rasheedat Modupe, et al.
יצא לאור: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
מאת: Lamberti, Luciano, et al.
יצא לאור: (2020)