Noncontact Atomic Force Microscopy
Spremljeno u:
Glavni autori: | Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland |
---|---|
Format: | Knjiga |
Jezik: | English |
Izdano: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Teme: | |
Online pristup: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84485 |
Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Similar Items
-
Noncontact Atomic Force Microscopy:
Volume 3
od: Morita, S, i dr.
Izdano: (2016) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
od: Brodusch, Nicolas, i dr.
Izdano: (2020) -
Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
od: Starman, LaVern, i dr.
Izdano: (2020) -
Advanced Noncontact Cutting and Joining Technologies
od: Mahamood, Rasheedat Modupe, i dr.
Izdano: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
od: Lamberti, Luciano, i dr.
Izdano: (2020)