Noncontact Atomic Force Microscopy
Сохранить в:
Главные авторы: | Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland |
---|---|
Формат: | |
Язык: | English |
Опубликовано: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Предметы: | |
Online-ссылка: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84485 |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Схожие документы
-
Noncontact Atomic Force Microscopy:
Volume 3
по: Morita, S, et al.
Опубликовано: (2016) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
по: Brodusch, Nicolas, et al.
Опубликовано: (2020) -
Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
по: Starman, LaVern, et al.
Опубликовано: (2020) -
Advanced Noncontact Cutting and Joining Technologies
по: Mahamood, Rasheedat Modupe, et al.
Опубликовано: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
по: Lamberti, Luciano, et al.
Опубликовано: (2020)