Noncontact Atomic Force Microscopy
Shranjeno v:
Những tác giả chính: | Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland |
---|---|
Format: | Knjiga |
Jezik: | English |
Izdano: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Teme: | |
Online dostop: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84485 |
Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobne knjige/članki
-
Noncontact Atomic Force Microscopy:
Volume 3
od: Morita, S, et al.
Izdano: (2016) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
od: Brodusch, Nicolas, et al.
Izdano: (2020) -
Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
od: Starman, LaVern, et al.
Izdano: (2020) -
Advanced Noncontact Cutting and Joining Technologies
od: Mahamood, Rasheedat Modupe, et al.
Izdano: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
od: Lamberti, Luciano, et al.
Izdano: (2020)