Functional Verification Coverage Measurement and Analysis

Mã QR

Functional Verification Coverage Measurement and Analysis

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Piziali, Andrew
פורמט:	ספר
שפה:	English
יצא לאור:	Springer US 2020
נושאים:	Engineering Circuits and Systems Electrical Engineering Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design
גישה מקוונת:	https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84966
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

פריטים דומים

Standardized Functional Verification
מאת: Wiemann, Alan
יצא לאור: (2020)

Open Verification Methodology Cookbook
מאת: Glasser, Mark
יצא לאור: (2020)

Hardware Verification with System Verilog
מאת: Mintz, Mike, et al.
יצא לאור: (2020)

SystemVerilog for Verification
מאת: Spear, Chris
יצא לאור: (2020)

Functional Design Errors in Digital Circuits
מאת: Chang, Kai-hui, et al.
יצא לאור: (2020)

Timing Optimization Through Clock Skew Scheduling
מאת: Kourtev, Ivan S., et al.
יצא לאור: (2020)

Clocking in Modern VLSI Systems
מאת: Xanthopoulos, Thucydides
יצא לאור: (2020)

Creating Assertion-Based IP
מאת: Foster, Harry D., et al.
יצא לאור: (2020)

Assertion-Based Design
מאת: Foster, Harry D., et al.
יצא לאור: (2020)

Digital Design and Implementation with Field Programmable Devices
מאת: Navabi, Zainalabedin
יצא לאור: (2020)

The Universal Generating Function in Reliability Analysis and Optimization
מאת: Levitin, Gregory
יצא לאור: (2020)

Routing Congestion in VLSI Circuits
מאת: Saxena, Prashant, et al.
יצא לאור: (2020)

Rapid Prototyping of Digital Systems
מאת: Hamblen, James O., et al.
יצא לאור: (2020)

Embedded System Design
מאת: Gajski, Daniel D., et al.
יצא לאור: (2020)

Automated Technology for Verification and Analysis
מאת: Peled, Doron A., et al.
יצא לאור: (2020)

Automated Technology for Verification and Analysis
מאת: Namjoshi, Kedar, et al.
יצא לאור: (2020)

Nanosystems Design and Technology
מאת: DeMicheli, Giovanni, et al.
יצא לאור: (2020)

Full-Chip Nanometer Routing Techniques
מאת: Ho, Tsung-Yi, et al.
יצא לאור: (2020)

Static Timing Analysis for Nanometer Designs
מאת: Bhasker, J., et al.
יצא לאור: (2020)

Verilog and SystemVerilog Gotchas
מאת: Sutherland, Stuart, et al.
יצא לאור: (2020)

Global Specification and Validation of Embedded Systems
מאת: Nicolescu, G., et al.
יצא לאור: (2020)

CMOS Active Inductors and Transformers
מאת: Yuan, Fei
יצא לאור: (2020)

Closing the Power Gap between ASIC & Custom
מאת: Chinnery, David, et al.
יצא לאור: (2020)

Inverse Problems in Electric Circuits and Electromagnetics
מאת: Korovkin, N.V., et al.
יצא לאור: (2020)

Design of Embedded Control Systems
מאת: Adamski, Marian Andrzej, et al.
יצא לאור: (2020)

Design for Manufacturability and Statistical Design
מאת: Orshansky, Michael, et al.
יצא לאור: (2020)

Solid Modeling and Applications
מאת: Um, Dugan
יצא לאור: (2020)

Models for Computer Aided Tolerancing in Design and Manufacturing
מאת: Davidson, Joseph K.
יצא לאור: (2020)

Millimeter-Wave Low Noise Amplifiers. 1st ed. 2018
מאת: Božanić, Mladen, et al.
יצא לאור: (2020)

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
מאת: Chiang, Charles, et al.
יצא לאור: (2020)

CMOS Current-Mode Circuits for Data Communications
מאת: Yuan, Fei
יצא לאור: (2020)

Nanometer Technology Designs
מאת: Ahmed, Nisar
יצא לאור: (2020)

Low-Power High-Level Synthesis for Nanoscale CMOS Circuits
מאת: Mohanty, Saraju P., et al.
יצא לאור: (2020)

Carbon Nanotube Electronics
מאת: Javey, Ali, et al.
יצא לאור: (2020)

Advances in Ergonomics of Manufacturing: Managing the Enterprise of the Future. 1st ed. 2018
מאת: Trzcielinski, Stefan
יצא לאור: (2020)

Computational Morphologies. 1st ed. 2018
מאת: Rossi, Michela, et al.
יצא לאור: (2020)

Inhibitory Rules in Data Analysis
יצא לאור: (2020)

Designing Inclusive Futures
מאת: Langdon, P., et al.
יצא לאור: (2020)

Rough Set Theory: A True Landmark in Data Analysis
יצא לאור: (2020)

Collaborative Design and Planning for Digital Manufacturing
מאת: Wang, Lihui, et al.
יצא לאור: (2020)