CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
שמור ב:
Những tác giả chính: | Pavlov, Andrei, Sachdev, Manoj |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Springer Netherlands
2020
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/85224 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
פריטים דומים
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
מאת: Sachdev, Manoj, et al.
יצא לאור: (2020) -
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
מאת: Semenov, Oleg, et al.
יצא לאור: (2020) -
Embedded Memories for Nano-Scale VLSIs
מאת: Zhang, Kevin
יצא לאור: (2020) -
Ultra-Low Voltage Nano-Scale Memories
מאת: Itoh, Kiyoo, et al.
יצא לאור: (2020) -
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
מאת: Chiang, Charles, et al.
יצא לאור: (2020)