Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer International Publishing
2020
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
Những quyển sách tương tự
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
Bỡi: Lienig, Jens, et al.
Được phát hành: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
Bỡi: Posser, Gracieli, et al.
Được phát hành: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
Bỡi: Tsirimokou, Georgia, et al.
Được phát hành: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
Bỡi: Buccella, Pietro, et al.
Được phát hành: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
Bỡi: Li, Jie, et al.
Được phát hành: (2020)