Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριοι συγγραφείς: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Springer International Publishing
2020
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
ανά: Lienig, Jens, κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
ανά: Posser, Gracieli, κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
ανά: Tsirimokou, Georgia, κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
ανά: Buccella, Pietro, κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
ανά: Li, Jie, κ.ά.
Έκδοση: (2020)