Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Uloženo v:
Hlavní autoři: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
Médium: | Kniha |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Springer International Publishing
2020
|
Témata: | |
On-line přístup: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobné jednotky
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
Autor: Lienig, Jens, a další
Vydáno: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
Autor: Posser, Gracieli, a další
Vydáno: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
Autor: Tsirimokou, Georgia, a další
Vydáno: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
Autor: Buccella, Pietro, a další
Vydáno: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
Autor: Li, Jie, a další
Vydáno: (2020)