Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Tallennettuna:
Päätekijät: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
Aineistotyyppi: | Kirja |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Springer International Publishing
2020
|
Aiheet: | |
Linkit: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Samankaltaisia teoksia
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
Tekijä: Lienig, Jens, et al.
Julkaistu: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
Tekijä: Posser, Gracieli, et al.
Julkaistu: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
Tekijä: Tsirimokou, Georgia, et al.
Julkaistu: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
Tekijä: Buccella, Pietro, et al.
Julkaistu: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
Tekijä: Li, Jie, et al.
Julkaistu: (2020)