Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
שמור ב:
Những tác giả chính: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Springer International Publishing
2020
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
פריטים דומים
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
מאת: Lienig, Jens, et al.
יצא לאור: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
מאת: Posser, Gracieli, et al.
יצא לאור: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
מאת: Tsirimokou, Georgia, et al.
יצא לאור: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
מאת: Buccella, Pietro, et al.
יצא לאור: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
מאת: Li, Jie, et al.
יצא לאור: (2020)