Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Spremljeno u:
Glavni autori: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
Format: | Knjiga |
Jezik: | English |
Izdano: |
Springer International Publishing
2020
|
Teme: | |
Online pristup: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Similar Items
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
od: Lienig, Jens, i dr.
Izdano: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
od: Posser, Gracieli, i dr.
Izdano: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
od: Tsirimokou, Georgia, i dr.
Izdano: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
od: Buccella, Pietro, i dr.
Izdano: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
od: Li, Jie, i dr.
Izdano: (2020)