Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies. 1st ed.
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Canelas, António Manuel Lourenço, Guilherme, Jorge Manuel Correia, Horta, Nuno Cavaco Gomes |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer International Publishing
2020
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/93792 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Automatic Analog IC Sizing and Optimization Constrained with PVT Corners and Layout Effects
Bỡi: Lourenço, Nuno, et al.
Được phát hành: (2020) -
Analog Integrated Circuit Design Automation
Bỡi: Martins, Ricardo, et al.
Được phát hành: (2020) -
Nanometer CMOS ICs
Bỡi: Veendrick, Harry J.M.
Được phát hành: (2020) -
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Bỡi: Chiang, Charles, et al.
Được phát hành: (2020) -
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Bỡi: Huisman, Leendert M.
Được phát hành: (2020)