Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies. 1st ed.

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Canelas, António Manuel Lourenço, Guilherme, Jorge Manuel Correia, Horta, Nuno Cavaco Gomes
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Springer International Publishing 2020
Materias:
Acceso en línea:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/93792
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt