Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies. 1st ed.

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Canelas, António Manuel Lourenço, Guilherme, Jorge Manuel Correia, Horta, Nuno Cavaco Gomes
Format: Książka
Język:English
Wydane: Springer International Publishing 2020
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/93792
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt