Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies. 1st ed.

Benzer Materyaller

• Automatic Analog IC Sizing and Optimization Constrained with PVT Corners and Layout Effects
  Yazar:: Lourenço, Nuno, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)
• Analog Integrated Circuit Design Automation
  Yazar:: Martins, Ricardo, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)
• Nanometer CMOS ICs
  Yazar:: Veendrick, Harry J.M.
  Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)
• Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
  Yazar:: Chiang, Charles, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)
• Data Mining and Diagnosing IC Fails
  Yazar:: Huisman, Leendert M.
  Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)