Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
שמור ב:
Những tác giả chính: | Williams, David B., Carter, C. Barry |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Springer US
2020
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/93826 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
פריטים דומים
-
Transport of Energetic Electrons in Solids. 2nd ed. 2017
מאת: Dapor, Maurizio
יצא לאור: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
מאת: Brodusch, Nicolas, et al.
יצא לאור: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
מאת: Goldstein, Joseph I., et al.
יצא לאור: (2020) -
Advances in Nanomaterials. 1st ed. 2018
מאת: Balasubramanian, Ganesh
יצא לאור: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
מאת: Kirkland, Earl J.
יצא לאור: (2020)