Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
Сохранить в:
Главные авторы: | Williams, David B., Carter, C. Barry |
---|---|
Формат: | |
Язык: | English |
Опубликовано: |
Springer US
2020
|
Предметы: | |
Online-ссылка: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/93826 |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Схожие документы
-
Transport of Energetic Electrons in Solids. 2nd ed. 2017
по: Dapor, Maurizio
Опубликовано: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
по: Brodusch, Nicolas, et al.
Опубликовано: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
по: Goldstein, Joseph I., et al.
Опубликовано: (2020) -
Advances in Nanomaterials. 1st ed. 2018
по: Balasubramanian, Ganesh
Опубликовано: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
по: Kirkland, Earl J.
Опубликовано: (2020)