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Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure /
Weitere Verfasser: “...Yu, Jae-In....”
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
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Investigation of AlxGa1-xAs/GaAs heterostructure by annealing at 300~800oC /
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