Lý thuyết Weak Localization và ứng dụng trong nghiên cứu tính chất truyền dẫn của màng mỏng F:SnO2 : Luận văn Thạc sĩ Vật lý. Chuyên ngành Vật lý lý thuyết và Vật lý toán
Nghiên cứu lý thuyết định xứ yếu và vận dụng lý thuyết này trong nghiên cứu các tính chất truyền dẫn và của màng mỏng F:SnO2.
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Trương, Huỳnh Ngọc Hân |
---|---|
التنسيق: | كتاب |
اللغة: | Undetermined |
منشور في: |
Cần Thơ
Trường Đại học Cần Thơ
2017
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
---|
مواد مشابهة
-
Nghiên cứu hiện tượng từ trở của màng mỏng F:SnO2 và Bi2Se3 :
بواسطة: Nguyễn, Nhật Quyên
منشور في: (2017) -
Nghiên cứu hiện tượng siêu dẫn và từ trở của màng mỏng điện môi Tôpô In/Bi2Te3 :
بواسطة: Phan, Huỳnh Anh Thư
منشور في: (2017) -
Vật Lý và kỹ thuật màng mỏng
بواسطة: Nguyễn, Năng Định
منشور في: (2005) -
Công nghệ màng
بواسطة: Nguyễn, Hữu Hiếu
منشور في: (2018) -
Mô phỏng quá trình tạo màng SiC phẳng hai chiều có độ rộng NANO từ trạng thái lỏng :
بواسطة: Trương, Quốc Tuấn
منشور في: (2016)