Nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh : Luận văn thạc sĩ vật lý chuyên ngành Vật lý Lý thuyết và Vật lý toán
Nội dung luận văn giới thiệu về nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh.
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Undetermined |
| Publicado: |
Cần Thơ
Trường Đại học Cần Thơ
2018
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
| LEADER | 01084nam a2200205Ia 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | CTU_227289 | ||
| 008 | 210402s9999 xx 000 0 und d | ||
| 082 | |a 621.38152 | ||
| 082 | |b D561 | ||
| 100 | |a Nguyễn, Thị Thùy Dương | ||
| 245 | 0 | |a Nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh : | |
| 245 | 0 | |b Luận văn thạc sĩ vật lý chuyên ngành Vật lý Lý thuyết và Vật lý toán | |
| 245 | 0 | |c Nguyễn Thị Thùy Dương ; Huỳnh Anh Huy (người hướng dẫn khoa học) | |
| 260 | |a Cần Thơ | ||
| 260 | |b Trường Đại học Cần Thơ | ||
| 260 | |c 2018 | ||
| 520 | |a Nội dung luận văn giới thiệu về nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh. | ||
| 650 | |a Chất bán dẫn,Semiconductors | ||
| 910 | |b dqhieu | ||
| 980 | |a Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ | ||