Nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh : Luận văn thạc sĩ vật lý chuyên ngành Vật lý Lý thuyết và Vật lý toán
Nội dung luận văn giới thiệu về nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh.
Сохранить в:
| Главный автор: | Nguyễn, Thị Thùy Dương |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | Undetermined |
| Опубликовано: |
Cần Thơ
Trường Đại học Cần Thơ
2018
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Схожие документы
-
Nghiên cứu cấu tạo bề mặt ZnO bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
по: Bùi, Thị Nguyệt Thu
Опубликовано: (2014) -
Nghiên cứu cấu tạo bề mặt TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
по: Nguyễn, Vy Khương
Опубликовано: (2014) -
Khảo sát cơ chế hấp thụ bề mặt ZnO bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
по: Nguyễn, Thị Hồng Loan
Опубликовано: (2015) -
Khảo sát cơ chế hấp thụ bề mặt TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
по: Viên, Tuấn Anh
Опубликовано: (2015) -
Nghiên cứu cấu tạo dây Nanô TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
по: Huỳnh, Thế Anh
Опубликовано: (2014)