Nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh : Luận văn thạc sĩ vật lý chuyên ngành Vật lý Lý thuyết và Vật lý toán
Nội dung luận văn giới thiệu về nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh.
Uloženo v:
| Hlavní autor: | Nguyễn, Thị Thùy Dương |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | Undetermined |
| Vydáno: |
Cần Thơ
Trường Đại học Cần Thơ
2018
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Podobné jednotky
-
Nghiên cứu cấu tạo bề mặt ZnO bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
Autor: Bùi, Thị Nguyệt Thu
Vydáno: (2014) -
Nghiên cứu cấu tạo bề mặt TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
Autor: Nguyễn, Vy Khương
Vydáno: (2014) -
Khảo sát cơ chế hấp thụ bề mặt ZnO bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
Autor: Nguyễn, Thị Hồng Loan
Vydáno: (2015) -
Khảo sát cơ chế hấp thụ bề mặt TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
Autor: Viên, Tuấn Anh
Vydáno: (2015) -
Nghiên cứu cấu tạo dây Nanô TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
Autor: Huỳnh, Thế Anh
Vydáno: (2014)