Nâng cao đặc trưng của máy phát xung ngẫu nhiên để kiểm tra các thiết bị hạt nhân /
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Tác giả khác: | |
| Định dạng: | Luận văn |
| Ngôn ngữ: | Vietnamese |
| Được phát hành: |
Đà Lạt :
Trường Đại học Đà Lạt,
1999
|
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
| LEADER | 00964nam a2200313 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | DLU030024286 | ||
| 005 | ##20030801 | ||
| 040 | # | # | |a DLU |b vie |
| 041 | # | # | |a vie |
| 044 | # | # | |a vn |
| 082 | # | # | |a 530 |b HO-L |
| 100 | # | # | |a Hoàng Văn Luận |
| 245 | # | # | |a Nâng cao đặc trưng của máy phát xung ngẫu nhiên để kiểm tra các thiết bị hạt nhân / |c Hoàng Văn Luận |
| 260 | # | # | |a Đà Lạt : |b Trường Đại học Đà Lạt, |c 1999 |
| 300 | # | # | |a 108 tr. ; |c 29 cm |
| 653 | # | # | |a Điện tử hạt nhân |
| 653 | # | # | |a Máy phát xung |
| 653 | # | # | |a Ngẫu nhiên |
| 653 | # | # | |a Thiết bị hạt nhân |
| 700 | # | # | |a Đinh Sỹ Hiền |c PGS.PTS. |e Cán bộ hướng dẫn |
| 915 | # | # | |a Vật lý kỹ thuật |b 1.03.08 |c Thạc sĩ |d Trường Đại học Đà Lạt |
| 994 | # | # | |a DLU |
| 900 | # | # | |a True |
| 911 | # | # | |a Lê Nguyên Khang |
| 925 | # | # | |a G |
| 926 | # | # | |a A |
| 927 | # | # | |a LA |
| 980 | # | # | |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |