Nâng cao đặc trưng của máy phát xung ngẫu nhiên để kiểm tra các thiết bị hạt nhân /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Hoàng Văn Luận
Beste egile batzuk: Đinh Sỹ Hiền PGS.PTS. (Cán bộ hướng dẫn)
Formatua: Luận văn
Hizkuntza:Vietnamese
Argitaratua: Đà Lạt : Trường Đại học Đà Lạt, 1999
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt