Saltar al contenido
Logo
  • Su cuenta
  • Salir
  • Entrar
  • Lenguaje
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
Avanzado
  • Real-time PCB monitoring using...
  • Existencias
  • Citar
  • Enviar este por Correo electrónico
  • Imprimir
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
    • Exportar a MARC
    • Exportar a MARCXML
    • Exportar a RDF
    • Exportar a BibTeX
    • Exportar a RIS
  • Agregar a favoritos
Real-time PCB monitoring using time-of-flight mass spectrometry with picosecond laser ionization /
Código QR

Real-time PCB monitoring using time-of-flight mass spectrometry with picosecond laser ionization /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Deguchi, Yoshihiro., Dobashi, Shinsaku., Fukuda, Norihiro., Morita, Masatoshi., Shinoda, Katsuhiko.
Formato: Artículo
Lenguaje:English
Materias:
Chemical analysis
Heat treatment
Laser irradiation
Multiphoton ionization
Picosecond
Pollution
Sensitivity
Thermal degradation
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
  • Existencias
  • Descripción
  • Comentarios
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo

Detalle de Existencias desde

Ejemplares similares

  • Desorption/ionization on silicon time-of-flight/time-of-flight mass spectrometry /
  • Role of electrons in laser desorption/ionization mass spectrometry /
  • Resonance-enhanced multiphoton ionization and VUV-single photon ionization as soft and selective laser ionization methods for on-line time-of-flight mass spectrometry : Investigation of the pyrolysis of typical organic contaminants in the steel recycling process /
  • Carbon nanotubes as assisted matrix for laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometry /
  • Anionic adducts of oligosaccharides by matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometry /
    por: Cai, Yang.

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Lista Alfabética
  • Explorar canales
  • Reservas de Curso
  • Nuevos ejemplares

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda
  • Consulte a un Bibliotecario
  • Preguntas Frecuentes

@2022-2024 - Liên Chi hội Thư viện Đại học phía Nam
Liên hệ tích hợp dữ liệu: Phan Ngọc Đông - E-mail: dongpn@dlu.edu.vn

Cargando...