Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
Сохранить в:
| Главный автор: | Oh, G. |
|---|---|
| Другие авторы: | Lee, W. |
| Формат: | Статья |
| Язык: | English |
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Схожие документы
-
Introduction to X-ray spectrometric analysis
по: Bertin, Eugene P
Опубликовано: (2013) -
An introduction to X-ray crystallography
по: Woolfson, M M
Опубликовано: (2013) -
Handbook of X-ray spectrometry
по: VanGriekan, ReneE, et al.
Опубликовано: (2013) -
Elements of modern X-ray physics /
по: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Опубликовано: (2001) -
The fundamentals of X-rays and radium physics
по: Selman, Joseph
Опубликовано: (1972)