Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Oh, G. |
---|---|
Tác giả khác: | Lee, W. |
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | English |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Elements of modern X-ray physics /
Bỡi: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Được phát hành: (2001) -
The fundamentals of X-rays and radium physics
Bỡi: Selman, Joseph
Được phát hành: (1972) -
Elements of X-ray diffraction
Bỡi: Cullity, B. D.
Được phát hành: (2001) -
Elements of X-Ray diffraction
Bỡi: Cullity, B. D.
Được phát hành: (2001) -
X-ray scattering from semiconductors /
Bỡi: Fewster, Paul F.
Được phát hành: (2000)