Chuyển đến nội dung
Vaš račun
Odjava
Prijava
Jezik
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
Išči
Material investigation and ana...
Komentarji
Citiraj
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Izvozi v MARC
Izvozi v MARCXML
Izvozi v RDF
Izvozi v BibTeX
Izvozi v RIS
Dodaj v priljubljene
Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor:
Oh, G.
Drugi avtorji:
Lee, W.
Format:
Bài viết
Jezik:
English
Teme:
CdTe
X-rays
Oznake:
Označite
Brez oznak, prvi označite!
Thư viện lưu trữ:
Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Zaloga
Opis
Komentarji
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Komentirajte kot prvi!
Vaš komentar
Najprej se morate prijaviti
Podobne knjige/članki
Introduction to X-ray spectrometric analysis
od: Bertin, Eugene P
Izdano: (2013)
An introduction to X-ray crystallography
od: Woolfson, M M
Izdano: (2013)
Handbook of X-ray spectrometry
od: VanGriekan, ReneE, et al.
Izdano: (2013)
Elements of modern X-ray physics /
od: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Izdano: (2001)
The fundamentals of X-rays and radium physics
od: Selman, Joseph
Izdano: (1972)
Nalaganje...