تخطي إلى المحتوى
حسابك
تسجيل الخروج
تسجيل الدخول
اللغة
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الطلب
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Material investigation and ana...
المقتنيات
استشهد بهذا
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
تصدير إلى MARC
تصدير إلى MARCXML
تصدير إلى RDF
تصدير إلى BibTeX
تصدير إلى RIS
أضف إلى المفضلة
Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:
Oh, G.
مؤلفون آخرون:
Lee, W.
التنسيق:
مقال
اللغة:
English
الموضوعات:
CdTe
X-rays
الوسوم:
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ:
Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
المقتنيات
الوصف
التعليقات
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
تفاصيل المقتنيات من
مواد مشابهة
Introduction to X-ray spectrometric analysis
بواسطة: Bertin, Eugene P
منشور في: (2013)
An introduction to X-ray crystallography
بواسطة: Woolfson, M M
منشور في: (2013)
Handbook of X-ray spectrometry
بواسطة: VanGriekan, ReneE, وآخرون
منشور في: (2013)
Elements of modern X-ray physics /
بواسطة: Als-Nielsen, Jens, 1937-
منشور في: (2001)
The fundamentals of X-rays and radium physics
بواسطة: Selman, Joseph
منشور في: (1972)
تحميل...