Chuyển đến nội dung
החשבון שלך
יציאה מהחשבון
כניסה לחשבון
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Material investigation and ana...
מלאי ספרים
יצירת מראה מקום
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
יצוא אל MARC
יצוא אל MARCXML
יצוא אל RDF
יצוא אל BibTeX
יצוא אל RIS
הוספה למועדפים
Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:
Oh, G.
מחברים אחרים:
Lee, W.
פורמט:
Bài viết
שפה:
English
נושאים:
CdTe
X-rays
תגים:
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
Thư viện lưu trữ:
Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
מלאי ספרים
תיאור
הערות
פריטים דומים
תצוגת צוות
פרטי מלאי ספרים מ
פריטים דומים
Introduction to X-ray spectrometric analysis
מאת: Bertin, Eugene P
יצא לאור: (2013)
An introduction to X-ray crystallography
מאת: Woolfson, M M
יצא לאור: (2013)
Handbook of X-ray spectrometry
מאת: VanGriekan, ReneE, et al.
יצא לאור: (2013)
Elements of modern X-ray physics /
מאת: Als-Nielsen, Jens, 1937-
יצא לאור: (2001)
The fundamentals of X-rays and radium physics
מאת: Selman, Joseph
יצא לאור: (1972)
טוען...