İçeriği atla
Hesabım
Çıkış
Giriş
Dil
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Arama
Material investigation and ana...
Erişim Bilgileri
Alıntıla
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
İhraç Et MARC
İhraç Et MARCXML
İhraç Et RDF
İhraç Et BibTeX
İhraç Et RIS
Favorilerime ekle
Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar:
Oh, G.
Diğer Yazarlar:
Lee, W.
Materyal Türü:
Makale
Dil:
English
Konular:
CdTe
X-rays
Etiketler:
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Thư viện lưu trữ:
Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Yorumlar
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Detaylı Erişim Bilgileri
Benzer Materyaller
Introduction to X-ray spectrometric analysis
Yazar:: Bertin, Eugene P
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013)
An introduction to X-ray crystallography
Yazar:: Woolfson, M M
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013)
Handbook of X-ray spectrometry
Yazar:: VanGriekan, ReneE, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013)
Elements of modern X-ray physics /
Yazar:: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)
The fundamentals of X-rays and radium physics
Yazar:: Selman, Joseph
Baskı/Yayın Bilgisi: (1972)
Yüklüyor......