Microstructure study of electrochemically driven LixSi /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy:	Cho, Jong Soo., DeLuca, Christopher M., Dunn, Martin L., Han, Heung Nam., Kim, Kee-Bum., Kim, Sung-Hwan., Lee, Se-Hee., Maute, Kurt K., Moon, Jeong-Tak., Oh, Kyu Hwan., Roh, Hyunchul., Son, Seoung-Bum., Trevey, James E.
Format:	Artykuł
Język:	English
Hasła przedmiotowe:	Chemomechanical modeling Focused ion beam High resolution transmission electron microscopy Silicon anode X-ray diffraction
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Podobne zapisy