Microstructure study of electrochemically driven LixSi /

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Další autoři:	Cho, Jong Soo., DeLuca, Christopher M., Dunn, Martin L., Han, Heung Nam., Kim, Kee-Bum., Kim, Sung-Hwan., Lee, Se-Hee., Maute, Kurt K., Moon, Jeong-Tak., Oh, Kyu Hwan., Roh, Hyunchul., Son, Seoung-Bum., Trevey, James E.
Médium:	Článek
Jazyk:	English
Témata:	Chemomechanical modeling Focused ion beam High resolution transmission electron microscopy Silicon anode X-ray diffraction
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!

Podobné jednotky